机译:集成电路特性和故障分析的光学电流表
Centre de Physique Moleculaire Optique et Hertzienne (CPMOH), URA-CNRS 283, Universite de Bordeaux I et CNRS, 351 cours de la Liberation, F-33405-Talence Cedex, France;
optical ammeter; laser probe; integrated circuit characterization; Peltier effect; thermal waves;
机译:超出衍射极限的集成电路故障分析:具有集成电阻,电容和UV共聚焦成像的接触模式近场扫描光学显微镜
机译:基于故障的物理故障模式,影响和集成电路的临界度分析
机译:锁定热成像在定量相移分析中在集成电路故障分析中的应用
机译:用于现代集成电路故障分析的光学工具和技术
机译:关于静电放电引起的软故障的集成电路特征。
机译:集成等离子电路中光通信范围内的纳米级片上全光逻辑奇偶校验器
机译:集成电路上光学器件的设计,测量和表征方法
机译:微型集成电路故障的失效分析。