机译:MOS门极氧化物上具有恒定和恒定电压应力的可靠性测量研究
National Microelectronics Research Centre (NMRC) University College Cork, Lee Maltings, Prospect Row, Cork, Ireland;
oxide reliability; lifetime increase; ramped voltage stress; unipolar pulsed ramp; charge trapping;
机译:失效准则对基于电压斜坡应力的超薄栅氧化物CMOS器件可靠性预测的影响
机译:在恒定电压应力下具有堆叠式RPECVD氧化物/氮化物栅极电介质的p-MOS器件的故障和可靠性
机译:TEM在nMOSFET的超薄栅极氧化物中恒流应力和恒压应力击穿失效机理的相关性
机译:评估MOS栅极氧化物在晶片水平上具有斜坡/恒定电压和电流应力的可靠性
机译:机械应力对硅和锗金属氧化物半导体器件的影响:沟道迁移率,栅极隧穿电流,阈值电压和栅极堆叠
机译:秀丽隐杆线虫:研究帕金森氏病中氧化应激和金属动态平衡的模型
机译:恒压应力下超薄栅极氧化物MOS电容器的TDDB特性及基板热载体喷射