机译:热退火在控制ITO薄膜层的结构和光学性质方面的主要作用
King Abdulaziz Univ Fac Sci Dept Phys Jeddah 80203 Saudi Arabia;
King Abdulaziz Univ Fac Sci Dept Phys Jeddah 80203 Saudi Arabia;
Al Azhar Univ Fac Sci Phys Dept PO 71452 Assiut Egypt;
George Washington Univ Dept Elect & Comp Engn Washington DC 20052 USA;
ITO layer Films; Thermal treated; Microstructural parameters; Optoelectronic parameters;
机译:铟板诱导的结构相变及其对热退火的堆叠层的电气和光学性质的影响
机译:初始Zn层的热退火对PA-MBE生长ZnO薄膜结构和光学性能的影响
机译:通过多孔硅层的快速热退火获得的准单晶硅薄膜的结构,光学和电学性质
机译:热退火对通过层(LBL)沉积技术制备的氢化硅(Si:H)薄膜的光学,结构和形态学性能的影响
机译:原位热退火工艺对脉冲激光沉积制造CDS Cdte薄膜太阳能电池结构,光学和电性能的影响
机译:快速热退火对原子层沉积生长Zr掺杂ZnO薄膜的结构电学和光学性质的影响
机译:热退火在控制ITO薄膜层的结构和光学性质方面的主要作用