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双方向•反射減衰量/挿入損失テスタと光ファイバ特性評価システム

机译:双向•回波损耗/插入损耗测试仪和光纤表征系统

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摘要

三喜のブースでは、タクトタイムを1/12に短縮する双方向•反射減衰量/挿入損失テスタと光ファイバ特性評価システムが見所になる。オプトテストの双方向•反射減衰量テスタを使うと、これまで2分(120秒)かかっていたテストがわずか10秒足らずで完了する。光ファイバ特性評価システムWS500は、最近のR&Dトピックになっているマルチコア、フューモードファイバのテストに適用できる。
机译:在三木展位,双向回波损耗/插入损耗测试仪和光纤特性分析系统将节拍时间缩短至1/12将成为亮点。双向选择测试•使用回波损耗测试仪,以前需要2分钟(120秒)的测试可以在不到10秒的时间内完成。光纤表征系统WS500可以用于多芯光纤fumode光纤的测试,这是最近的研发主题。

著录项

  • 来源
    《OPTCOM》 |2013年第5期|63-63|共1页
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  • 正文语种 jpn
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