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64G Baudrateの400Gデバイス評価試験や、QSFP+などの4ch BER測定

机译:64G波特率400G设备评估测试和4ch BER测量,例如QSFP +

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摘要

光デバイスから伝送装置、回線まで様々な測定器を展示。中でも注目はQSFP+などのマルチチャネル光モジュールに最適なオールインワン測定器や、64G Baudrate 16QAMの400Gデバイス評価試験ソリユーション。また、各種トランスポートテスタの追加機能も紹介される。次世代400G光通信モジュール用に、EDFA/FRA用高出力LD、半導体光増幅器等、光テバイスの新製品や参考展示品も複数紹介される。新製品は100GbE用28Gbrt/s Quad EA Driver等。参考出品ではPAM4、 200/400Gコヒーレント用28G Quad Linear EA Driver, Linear TIA、 32G InP Linear MZ Driver等が紹介される。
机译:展出从光学设备到传输设备和线路的各种测量仪器。特别值得一提的是多合一测量仪器,非常适合QSFP +等多通道光学模块,以及具有64G波特率16QAM的400G器件评估测试解决方案。此外,还将介绍各种运输测试仪的附加功能。对于下一代400G光通信模块,将介绍新的光学设备,例如EDFA / FRA大功率LD,半导体光放大器等,以及参考产品。新产品包括用于100GbE的28G brt / s Quad EA驱动程序。在参考展品中,介绍了用于200 / 400G相干的PAM4、28G四线线性EA驱动器,线性TIA,32G InP线性MZ驱动器等。

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  • 来源
    《OPTCOM》 |2016年第5期|18-18|共1页
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  • 正文语种 jpn
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