Możliwości Pomiarowe Modułowego Systemu Do Pomiaru I Analizy Topografii Powierzchni Top001

摘要

Stały postęp techniki w każdej dziedzinie produkcji skutkuje ciągłym wzrostem wymagań co do jakości elementów, z których powstają złożone mechanizmy. Często od ich jakości, w tym także od dokładności geometrycznej i jakości powierzchni (m.in. chropowatości, falistości, prostoliniowości), zależy trwałość wyrobów, a nawet bezpieczeństwo ludzi. Dlatego też kontrola jakości wyrobów staje się koniecznością.rnSłużą do tego celu m.in. profilometry i kształtografy, wchodzące w skład modułowego systemu do pomiaru i analizy topografii powierzchni TOPO01 (rys. 1). Profilometry przeznaczone są do pomiaru i analizy chropowatości, falistości i profilu pierwotnego (bez filtracji), ale mogą być też wykorzystywane do analizy wymiarowej zmierzonego zarysu. Kształtografy przeznaczone są przede wszystkim do kontroli wymiarowej wyrobów, ale wprowadzona możliwość skanowania przestrzennego powierzchni w zakresie pomiarów kształtu znacznie rozszerza możliwości ich zastosowania, np. pozwala na kontrolowanie geometrii narzędzi i ocenę ich zużycia.