首页> 外文期刊>Mechanik >Zakres zastosowania i możliwości pomiarowe modułowego systemu TOPO 02 do pomiaru i analizy topografii powierzchni
【24h】

Zakres zastosowania i możliwości pomiarowe modułowego systemu TOPO 02 do pomiaru i analizy topografii powierzchni

机译:用于测量和分析表面形貌的模块化TOPO 02系统的应用范围和测量可能性

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

Zaprezentowano możliwości pomiarowe, zakres stosowania oraz parametry techniczne opracowanego w Instytucie Zaawansowanych Technologii Wytwarzania (IZTW) systemu TOPO 02 do pomiaru makro- i mikrostruktury geometrycznej powierzchni. Przedstawiono przykłady zastosowania systemu oraz zalety rozwiązania pozwalającego na szeroki zakres pomiarów i analizy.%The article describes the TOPO 02 system developed in IZTW for inspection of the surface geometric macro- and microstruc-ture and measurements of the surface roughness parameters. Examples of application and advantages of the system providing for considerable limits of measurements and inspection are presented.
机译:介绍了由先进制造技术研究所(IZTW)开发的TOPO 02系统的测量可能性,应用范围和技术参数,该系统用于测量几何表面的宏观和微观结构。本文介绍了系统应用的示例以及解决方案的优势,可以进行广泛的测量和分析。%本文介绍了在IZTW开发的TOPO 02系统,用于检查表面几何宏观和微观结构以及测量表面粗糙度参数。给出了系统的应用示例和优点,提供了相当大的测量和检查限制。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号