机译:使用势垒之下和之上的B〜(3 +,4 +)离子在〜(73)Ta和〜(78)Pt中测量L和M壳X射线产生的截面
Punjabi Univ Patiala, Dept Phys, Patiala 147002, Punjab, India|1415,Sect 21, Panchkula 134112, India;
L X-rays; M X-rays; B-ions; Ta-73; Pt-78; X-ray production cross sections; Intensity ratios; Emission rates; Potential barrier; Multiple ionization;
机译:L-和M-Shell X射线产生横截面测量〜(73)Ta和〜(78)Pt使用B〜(3 +,4 +) - 电位低于和高于潜在屏障
机译:使用厚靶法通过低能电子撞击测量Pb的L-子壳X射线产生截面和M-壳X射线产率
机译:Bi和Pt靶上的碳离子诱导的M_(αβ),M_γ和总M壳X射线产生截面的新测量
机译:外延生长的被动调Q Cr / sup 4 + / :: GGG / Nd / sup 3 + /:GGG,Cr / sup 4 + /:YAG / Yb / sup 3 + /:YAG和Cr / sup的光学和激光特性4 + /:YAG / Nd / sup 3 + /:YAG微芯片激光器
机译:0.4和铀M壳X射线产生的横截面,用于0.4–4.0 MeV质子,0.4–6.0 MeV氦离子,4.5–11.3 mev碳离子和4.5–13.5 MeV氧离子
机译:用于骨矿物质测量的GE Healthcare月球奇才和iDXA双能X射线密度计的交叉校准
机译:由25-meV碳和32-meV氧离子制备的Nd,Gd,Ho,Yb,au和pb的L-和m-壳X射线截面