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Development of a pixellated Ir-TES for a large format TES array

机译:为大型TES阵列开发像素化Ir-TEST

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摘要

To realize imaging X-ray spectroscopy with high-energy resolution, we proposed a new pixellated array of Ir-TES. In this type of device, the bias point of each pixel is slightly modified. Therefore the analysis of the pulse shape parameter, such as the pulse height, the rise time and the fall time of a signal pulse, can identify the incident pixel position. We have obtained 13 eV (FWHM) at 3 keV energy resolution and 80 μm position resolution for 10 pixel devices. At this moment we could successfully operate a 20 pixel device.
机译:为了实现具有高能量分辨率的成像X射线光谱,我们提出了一种新的Ir-TES像素化阵列。在这种类型的设备中,每个像素的偏置点会稍有修改。因此,分析脉冲形状参数,例如信号脉冲的脉冲高度,上升时间和下降时间,可以识别入射像素位置。对于10个像素器件,我们以3 keV的能量分辨率和80μm的位置分辨率获得了13 eV(FWHM)。此时,我们可以成功操作20像素的设备。

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