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机译:EuCu_2Si_2的XAFS光谱
RRC Kurchatov Institute, 123182, Moscow, Russian Federation;
EuCu_2Si_2; XANES; EXAFS; mixed-valence;
机译:XAFS光谱中的厚度效应校正:温度测量方法
机译:软X射线光发射光谱法研究EuCu_2Ge_2和EuCu_2Si_2的电子态
机译:通过软X射线照相激光谱研究的Eucu_2Ge_2和Eucu_2SI_2的电子状态
机译:XAFS光谱法研究Si(001)上Ge量子点的局部结构参数