机译:IDeF-X V1.0:用于Cd(Zn)Te检测器的新型16通道低噪声模拟前端
CEA Saclay, Serv Elect Detecteurs & Informat, DAPNIA, DSM, F-91191 Gif Sur Yvette, France;
CEA Saclay, Serv Astrophys, DAPNIA, DSM, F-91191 Gif Sur Yvette, France;
ASIC; analog front-end electronics; CdTc; CdZnTe; hard X-ray spectroscopy; gamma-ray spectroscopy;
机译:用于CdZnTe检测器的16通道低噪声前端读出ASIC的线性增强设计
机译:开发用于CdTe检测器的低噪声模拟前端ASIC
机译:用于固态检测器的低噪声模拟前端专用集成电路的评估
机译:IDeF-X V1.0:用于Cd(Zn)Te检测器的新型CMOS多通道模拟读出ASIC的性能
机译:用于像素化半导体辐射探测器的低噪声模拟前端信号处理通道集成
机译:低噪声模块化和多功能模拟前端旨在处理微电极阵列检测到的体外神经元信号。
机译:用于像素化半导体辐射探测器的低噪声模拟前端信号处理通道集成