机译:CdZnTe带状漂移检测器的性能更新
Baltic Scientific Instruments, Ganibu dambis 26, LV-1005 Riga, Latvia;
机译:用于CdZnTe检测器的低噪声和辐射硬化读出ASIC的设计和性能
机译:带隙照明对CdZnTe:In电学性质和探测器性能的影响
机译:带隙照明对CdZnTe:In电学性质和探测器性能的影响
机译:CdZnTe探测器性能对探测器温度的依赖性
机译:基于4H-SiC N型外延层和像素Cdznte单晶装置的高分辨率辐射检测器
机译:深层缺陷对CdZnTe光子计数检测器性能的影响
机译:CdZnTe条带漂移探测器的性能更新