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机译:利用契伦科夫效应进行带电kaon质量测量
Indiana University, Bloomington, IN 47403, USA;
Harvard University, Cambridge, MA 02138, USA;
University of Michigan, Ann Arbor, MI 48109, USA Muons, Inc., Batavia, IL 60510, USA;
University of Iowa, Iowa City, IA 52242, USA;
University of Iowa, Iowa City, IA 52242, USA;
cherenkov effect; charged kaon mass; RICH detector;
机译:NA48 / 2上带电带电凯恩衰变的精密测量
机译:在STAR上测量高达15 GeV / c的高pT时产生的中性和带电kaon量
机译:带电的kaon半轻子衰变支化分数K-+ /--> pi(0)mu(+/-)v和K-+ /--> pi(0)e(+/-)v的测量及其比率(体积50,第329页,2007年)
机译:磁俘获模式中的艾比特:质谱法,原子寿命测量和高度带电原子离子的电荷转移反应
机译:B介子的分支比测量值衰减至J / psi介子eta介子介子,带电B介子衰减至中性D介子,带中性D介子的带电荷介子衰减至正离子负离子中性介子。
机译:研究pPb碰撞中...公式... 5.02 ...公式...时带电离子钾和质子的产生
机译:使用Cherenkov效应进行带电Kaon质量测量