机译:使用单色X射线发生器在0.1-1.5 keV范围内执行的两个硅漂移检测器之间的相对效率校准
CEA, DAM, CESTA;
CEA, DAM, CESTA;
Two-channel Rowland monochromator; X-ray generator; X-ray calibration; Silicon drift detector; Efficiency transfer; MégaJoule laser facility;
机译:X射线电荷耦合装置借助于0.2-1.2 keV光谱区域单色的X射线发生器的量子效率测量
机译:高纯锗探测器的X射线能量为5.48-302.85 keV的本征峰值效率的标定
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:与闪烁器耦合的硅漂移探测器阵列,采用脉冲形状识别技术操作:1 keV-1 MeV位置敏感的伽马射线探测器
机译:DRIFT II暗物质探测器的校准,跟踪和背景减少。
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析