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【24h】

Characterization of a new generation of silicon detector: The SIRIUS side 'Strippy-Pad' detector

机译:新一代硅探测器的表征:Sirius侧的“踩踏垫”探测器

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摘要

SIRIUS (Spectroscopy & Identification of Rare Isotopes Using S3) is a detection system designed for the focal plane of S3 (the Super Separator Spectrometer), which is part of the SPIRAL2 (Systeme de Production d'Ions RAdioactifs en Ligne de 2e generation) facility at GANIL (France). This study presents the characterization of the Side silicon detector of SIRIUS. This new "Strippy-pad" detector design benefits from an ultra-high resistivity and the windowless technique from Micron Semiconductor Ltd. These detectors were tested at the IPHC Strasbourg on a dedicated test bench with custom fast preamplifiers coupled to digital electronics cards. Combining all these elements, we obtained resolutions as good as 13.6 keV for certain pixels of this detector for 8.8 MeV alpha particles, with an average resolution measured at 14.7 keV over the whole detector.
机译:Sirius(使用S3的稀有同位素的光谱学和识别)是设计用于S3(超级分离器光谱仪)的焦平面的检测系统,这是螺旋体的一部分(Systee de生产D'Inn Nirceactifs En Ligne de 2e代)设施 在Ganil(法国)。 本研究介绍了Sirius的侧硅探测器的表征。 这种新的“Strippy-Pad”探测器设计从超高电阻率和Micron半导体有限公司的无窗技术中的设计受益。这些探测器在IPHC Strasbourg上进行了在专用的测试台上进行了测试,与定制快速前置放大器耦合到数字电子卡。 结合所有这些元素,我们获得了8.8 meVα颗粒的某些像素的13.6keV的分辨率,平均分辨率在整个检测器上以14.7kev测量。

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