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A&D Test & Measurement Trends

机译:A&D测试与测量趋势

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摘要

With shrinking defense budgets and smaller military forces relying on greater technological capabilities, the push is stronger than ever to do more with less while at the same time meeting unprecedented performance and reliability requirements. In response to these pressures, test tools must provide greater ease of use, lower test costs and perhaps most importantly, cutting edge performance.
机译:随着国防预算的缩减和较小的军事力量对更大技术能力的依赖,推动以前所未有的力量实现更大的发展的动力比以往任何时候都要强大,同时又要满足前所未有的性能和可靠性要求。为了应对这些压力,测试工具必须提供更高的易用性,更低的测试成本,并且最重要的是,还必须具有最先进的性能。

著录项

  • 来源
    《Microwave Journal》 |2015年第5suppla期|222426|共3页
  • 作者

    Hansen John S.;

  • 作者单位

    Keysight Technol Inc, Formerly Agilent Technol Elect Measurement Busine, Santa Rosa, CA 95403 USA;

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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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