...
首页> 外文期刊>Микроэлектроника >Диагностический контроль надежности интегральных схем с использованием шумов и воздействия электростатических разрядов
【24h】

Диагностический контроль надежности интегральных схем с использованием шумов и воздействия электростатических разрядов

机译:使用噪声和静电放电对集成电路的可靠性进行诊断监视

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Рассматриваются методики разделения партий интегральных схем (ИС), выполненных по биполярной и КМОП технологиям, с использованием низкочастотных шумов (НЧШ) и воздействия элек-тростатичеких разрядов (ЭСР).
机译:考虑了使用低频噪声(LF)分离使用双极和CMOS技术制造的集成电路的批次的方法以及静电放电(ESD)的影响。

著录项

  • 来源
    《Микроэлектроника》 |2010年第1期|21-27|共7页
  • 作者单位

    Воронежский государственный технический университет;

    Воронежский государственный технический университет;

    Воронежский государственный технический университет;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 rus
  • 中图分类
  • 关键词

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号