МЕТОДИКА АНАЛИЗА ЭКВИВАЛЕНТНОСТИ РЕНТГЕНОГРАММ МИКРОСХЕМ ДЛЯ ЗАДАЧ ОЦЕНКИ РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ

摘要

Предложена методика обработки рентгеновских изображений микросхем, позволяющая производить количественное сравнение изображений на этапе входного контроля в целях идентификации и выявления несоответствующей продукции. Предлагаемый способ сравнения рентгеновских изображений может служить дополнением к уже существующим способам идентификации образцов микросхем.