首页> 外文期刊>Микроэлектроника >КВАНТОВЫЙ ЧИП С ОПТИМИЗИРОВАННОЙ ТУННЕЛЬНОЙ СТРУКТУРОЙ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЗАРЯДОВОГО КУБИТА НА ДВОЙНОЙ КВАНТОВОЙ ТОЧКЕ
【24h】

КВАНТОВЫЙ ЧИП С ОПТИМИЗИРОВАННОЙ ТУННЕЛЬНОЙ СТРУКТУРОЙ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЗАРЯДОВОГО КУБИТА НА ДВОЙНОЙ КВАНТОВОЙ ТОЧКЕ

机译:具有优化的隧道结构的量子芯片,用于测量双量子点上的充电量子

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Предложена схема измерительного чипа для определения произвольного чистого состояния зарядового кубита. Сила тока, протекающего через одноэлектронный транзистор в стационарном режиме, зависит от состояния кубита. Для повышения чувствительности транзистора его рабочая часть формируется из трех квантовых точек, энергетические уровни которых образуют симметричную конфигурацию. Параметры системы рассчитываются в рамках микроскопической модели двумерных квантовых точек. Получены зависимости заселенностей состояний структуры от времени, а также определены сила тока, чувствительность и измерительный контраст как функции геометрических параметров системы. Изучено влияние диссипативных процессов, связанных с акустическими фононами, на процесс измерения и рассчитаны скорости релаксации и дефазировки электрона в двухуровневой системе.
机译:提出了测量芯片的图来确定充电量子位的任意纯状态。流过静止模式流过单电子晶体管的电流的强度取决于量子位的状况。为了提高晶体管的灵敏度,其工作部分由三个量子点形成,其能够形成对称配置。系统参数在二维量子点的微观模型内计算。确定时间结构的状态以及电流,灵敏度和测量对比度的依赖性被确定为系统的几何参数的功能。研究了与声学声子相关的耗散过程的影响,以测量测量过程并计算两级系统中电子在电子中的弛豫和缺陷速度。

著录项

获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号