机译:聚合物增强晶圆级封装的焊点可靠性
Kulicke & Soffa ― Flip Chip Division, 3701 E. University Drive, Phoenix, AZ 85034, USA;
机译:细间距铜柱型晶圆级封装(WLP)的板级焊点可靠性分析
机译:晶圆级包装焊点可靠性失效评估的蠕变模型的可行性评估
机译:晶圆级芯片级封装中无铅焊点的可靠性建模
机译:聚合物增强晶圆级封装的焊点可靠性
机译:晶圆级封装中焊点电迁移的有限元建模。
机译:使用预图案化BCB聚合物的RF MEMS应用的晶圆级封装方法
机译:材料性质对晶圆级封装联合可靠性的影响