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机译:高电流传输线脉冲(TLP)应力铜互连的微分析和电迁移可靠性能
Chartered Semiconductor Mfg Ltd, 60 Woodlands Industrial Park D St2, Singapore 738406, Singapore;
机译:脉冲和双向电流应力下互连的电迁移失效模型
机译:无电流应力区域的机械应力对多层互连电迁移可靠性的影响
机译:先进的窄线铜互连中应力迁移风险对电迁移可靠性的影响
机译:由于TLP ESD的影响,铜互连微显微分析和电迁移可靠性性能
机译:规模和工艺对铜/低k互连的电迁移可靠性的影响。
机译:铜双镶嵌互连的早期电迁移失败的紧凑模型
机译:铜互连中电迁移引起的塑性变形:对电流密度指数n的影响以及对EM可靠性评估的影响