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机译:使用最大似然法的加速寿命测试计算:最小二乘法的改进
RF Micro Devices, 7628 Thorndike Road, Greensboro, NC 27409, USA;
机译:通过恒温应力加速寿命测试和最大似然估计来预测VFD的可靠性寿命
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机译:在ADC测试中使用正弦拟合的最小二乘法和最大似然方法的比较
机译:使用最大似然法的加速寿命测试计算:最小二乘的改进
机译:Weibull模型下加速寿命数据的最大似然估计的统计属性。
机译:在系统发育学中实施和测试贝叶斯和最大似然超级树方法
机译:使用子树等式向量加速基于并行最大似然的系统发育树计算
机译:RXCX2列联表中最小Logit卡方估计和极大似然估计的比较:交互测试