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机译:栅极电介质磨损,泄漏和击穿的统计模拟
Institute for Microelectronics, Vienna University of Technology Gusshausstrasse 27-29, A-1040 Vienna, Austria;
机译:具有严重的栅漏介电击穿性能的高级nMOSFET器件的栅极泄漏电流的分析和建模
机译:以AlGaN / GaN金属氧化物半导体高电子迁移率晶体管的热氧化Al层为栅极电介质来抑制栅极泄漏并提高击穿电压
机译:使用系统级加速寿命试验分析估计随时间变化的介电击穿的磨损特性时的误差
机译:栅极电介质的磨损,泄漏和击穿建模MOSFET
机译:高压介电应用中氧化锌和二氧化钛中电击穿和热故障的建模和仿真
机译:质子辐照对常断型AlGaN / GaN栅嵌入式金属-绝缘体-半导体异质结构场效应晶体管随时间变化的介电击穿特性的影响
机译:用于超薄栅极氧化物可靠性的时间依赖介电磨损(TDDW)技术
机译:区域熔化 - 重结晶硅 - 绝缘体薄膜上产生的缺陷相关介电击穿,变化陷阱和界面态氧化物生成