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VCO phase noise improvement through direct passive component modification in the FIB

机译:通过FIB中的直接无源组件修改来改善VCO相位噪声

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摘要

It is shown in this study that it is possible to decrease under a controlled way the resistance of a passive component through the deposition of a Pt strap parallely connected to the involved device polysilicon resistor. Each modification step being followed by an electrical characterization, the evolution of device VCO phase noise versus equivalent resistor value could be drawn and the optimum value quantified.
机译:在这项研究中表明,可以通过平行连接到所涉及器件多晶硅电阻器的Pt带的沉积,以受控方式降低无源元件的电阻。每个修改步骤后都进行了电气特性分析,可以得出器件VCO相位噪声与等效电阻值的关系曲线,并对最佳值进行量化。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics & Reliability》 |2004年第11期|p.1589-1592|共4页
  • 作者

    B. Domenges; B. Tiphaigne;

  • 作者单位

    LAMIP, laboratoire de microelectronique ISMRA-Philips, 2 rue de la Girafe BP 5120, 14079 Caen Cedex 5, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 一般性问题;
  • 关键词

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