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机译:参数有限元方法可在各种负载条件下实现倒装芯片可靠性
Fraunhofer Institut Zuverlaessigkeit und Mikrointegration, Gustav-Meyer-Allee 25, 13355 Berlin, Germany;
机译:热循环载荷下考虑参数不确定性的倒装芯片定量可靠性分析
机译:测试条件对Sn-Ag-Cu倒装芯片焊料互连的电迁移可靠性的影响
机译:测试条件对Sn-Ag-Cu倒装芯片焊料互连的电迁移可靠性的影响
机译:通过计算机仿真进行倒装芯片可靠性的参数研究
机译:特定负载条件下股骨生长板取向的参数计算研究
机译:利用芽孢杆菌预处理稻草生产羧甲基纤维素酶的培养条件的参数优化。固定和振动条件下的313SI
机译:基于参数研究和可靠性的钢筋混凝土板交替荷载路径设计评估
机译:参数柱分析在支撑性能偏心荷载条件评估中的应用