机译:70 nm变形HEMT的可靠性
Fraunhofer Institut Angewandte Festkoerperphysik, Tullastr. 72, D-79108 Freiburg, Germany;
机译:50 nm低噪声变质HEMT和LNA的可靠性
机译:变质HEMT在电力应用中的可靠性
机译:具有高掺杂InGaAs源/漏区的20-nm增强模式变质GaAs HEMT,适用于高频应用
机译:用于低温和室温操作的35-nm和50-nm栅长变质HEMT技术中的70-116 GHz LNA
机译:高功率电子设备的建模与鉴定:闪光沸腾和GAN HEMT可靠性造型激光二极管的系统分析
机译:极化库仑场散射对70nm栅长AlGaN / GaN HEMT的电性能的影响
机译:使用70 nm变质HEMT技术的辐射计应用中的低噪声W波段放大器 ud