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机译:金属化堆叠的氢相关影响对沟槽栅氧化物的特性和可靠性的影响
Infineon Technologies Austria AG, Siemensstrasse 2, A-9500 Villach;
机译:具有0.72 nm等效氧化物厚度LaO / HfO_2堆叠栅电介质的金属氧化物半导体电容器的可靠性特征
机译:氧化物-氮化物-氧化物叠层栅介质的顺序横向凝固低温多晶硅薄膜晶体管的可靠性和存储特性
机译:金属覆盖层对钼栅极金属氧化物半导体叠层功函数的影响
机译:金属栅/高K电介质栅堆叠可靠性;或我如何学会与氧化碳共存
机译:二氧化ha与多晶硅栅和双金属(钌-钽合金,钌)栅电极的界面工程和可靠性特性,适用于65 nm以上的技术。
机译:新型硅酸盐矿物三氧化物聚集体(MTA修复HP)对培养THP-1巨噬细胞MMP-2和MMP-9表达的影响
机译:(邀请的)金属栅/高κ介质栅极堆叠可靠性;或者我如何学会与氧化物一起生活
机译:具有快速生长的超薄siO2栅极绝缘体的mOs(金属氧化物半导体)器件的界面和击穿特性。