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Localization of Marginal Circuits for Yield Diagnostics Utilizing a Dynamic Laser Stimulation Probing System

机译:利用动态激光刺激探测系统对边缘电路进行局部化以进行良率诊断

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摘要

We demonstrate isolation of marginal circuits utilizing a probing system with dual time-resolved emission (TRE) and dynamic laser stimulation (DLS) capabilities. Due to design-process interactions, failure of a BIST pattern in random frame buffer I/O cells was causing yield loss. Starting with only the failures' symptoms, we rapidly isolated the problem to a circuit within a PLL, using a PC-based test setup.
机译:我们演示了利用具有双重时间分辨发射(TRE)和动态激光刺激(DLS)功能的探测系统隔离边缘电路。由于设计过程的相互作用,随机帧缓冲区I / O单元中BIST模式的失败导致了产量损失。仅从故障的症状开始,我们使用基于PC的测试设置将问题迅速隔离到PLL内的电路。

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