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机译:ZVS软开关操作期间用于MOSFET表征的无损测试技术
DAEIMI -Universita di Cassino -V. Di Biasio, 43 - 03043 CASSINO (FR) -ITALIA;
机译:使用非接触式非破坏性测试技术表征蜂窝复合材料中的夹杂物和粘结物
机译:无损短路操作中1200 V SiC功率MOSFET损坏的平面氧化物的研究
机译:巴西无损检测与检验学会与英国无损检测协会之间的新合作协议
机译:新型调制策略可消除设备过压应力并在软开关固态变压器中实现真正的ZVS操作
机译:中性点钳位双有源桥式变换器的软开关操作的调制技术。
机译:技术桥梁挠度测试的无损技术比较
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