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机译:加速老化对功率RF LDMOS可靠性影响的比较分析
LEMI, University of Rouen, IUT Rouen, 76821, Mont Saint Aignan, France;
机译:加速老化测试中RF LDMOS电容可靠性的比较分析
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机译:用于射频放大器的VDmOs / LDmOs功率晶体管的比较分析
机译:聚合物化学老化对性能影响的国际研究项目:化学和热分析