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机译:NOR闪存中擦除操作的可靠性
Dept. di Ingegneria, Universitd di Ferrara, via Saragat 1, 44100 Ferrara, Italy;
机译:通过使用脉冲操作提高NOR-Flash阵列的性能和可靠性
机译:SiN对Fowler-Nordheim隧道编程/擦除操作下电荷陷阱闪速(CTF)的性能和可靠性的影响
机译:通过新型负FN操作使用热孔擦除方法提高SONOS型设备的可靠性
机译:高隧穿电场下闪存擦除操作的可靠性
机译:“那个记忆,我无法删除”:在混合状态家庭和少年腕部受累的十字架上
机译:编程/擦除操作对基于氧化物的电阻式开关存储器性能的影响
机译:SiN对Fowler-Nordheim隧穿程序/擦除操作下电荷陷阱闪烁(CTF)性能和可靠性的影响
机译:可编程只读存储器(pROm)的可靠性评估。第三部分:紫外线可擦除pROm。