机译:支持激励方案,用于JEDEC板级跌落测试的瞬态分析
Stress-Reliability Lab, Advanced Semiconductor Engineering, Inc., 26 Chin 3rd Road, Nantze Export Processing Zone, 811 Nantze, Kaohsiung, Taiwan;
机译:JEDEC标准跌落测试下的板级Sn-Ag-Cu焊料互连故障分析
机译:JEDEC跌落测试条件下的芯片级封装的板级可靠性实验研究
机译:电子封装的板级跌落测试的瞬态子模型分析
机译:各种JEDEC跌落试验条件对芯片尺度封装底座可靠性的影响
机译:新jEDEC标准对跌落试验的动态响应研究
机译:沿长低温柔性传输线的两相氦的压降以在其低温测试台上支持超导RF操作
机译:具有响应流量的选择性缓冲接收方案的瞬态性能分析
机译:middle Rio Grande水资源评估:洪水波测试和瞬态地下水分析,1995年2月。洪水波测试。支持第10号文件