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Investigation of moisture-induced failures of stacked-die package

机译:水分引起的叠层芯片封装失效的研究

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摘要

The present work studies the moisture induced failures of a stacked-die package. The study includes various experimental tests to find the characteristics of constituent packaging materials such as interfacial strength, hygro-swelling property and vapor pressure, and a comprehensive finite element analysis integrating the effects of the hygro-swelling stress, the thermo-mechanical stress and the vapor pressure. Specifically, the vapor pressures with respect to the moisture concentration and the temperature in epoxy molding compound were characterized experimentally by combined TMA/TGA technique. In the numerical stress analysis, the interfacial delamination was newly simulated by applying a cohesive element modeling technique, in which a quadratic traction damage initiation law and an exponential displacement separation law were used.
机译:本工作研究了湿气引起的堆叠式芯片封装的故障。这项研究包括各种实验测试,以找出组成包装材料的特性,例如界面强度,吸湿膨胀特性和蒸气压,并进行了综合有限元分析,综合了吸湿膨胀应力,热机械应力和热膨胀应力的影响。蒸汽压力。具体地,通过组合的TMA / TGA技术,通过实验表征了相对于环氧模塑料中的水分浓度和温度的蒸气压。在数值应力分析中,通过应用内聚元建模技术对界面分层进行了新的模拟,其中使用了二次牵引损伤起始定律和指数位移分离定律。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics & Reliability》 |2007年第11期|p.1673-1679|共7页
  • 作者

    Hak Sung Kim; Ho Geon Song;

  • 作者单位

    Samsung Electronics Co. Ltd., #723 Buksu-Ri, Baebang-Myeon, Asan-city, Chungcheongnam-do 336-711, Republic of Korea;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 一般性问题;
  • 关键词

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