机译:水分引起的叠层芯片封装失效的研究
Samsung Electronics Co. Ltd., #723 Buksu-Ri, Baebang-Myeon, Asan-city, Chungcheongnam-do 336-711, Republic of Korea;
机译:通过多尺度力学研究湿气导致的半导体封装件脱层失败
机译:用于堆叠式芯片级封装的芯片附着膜中的水分过饱和和蒸汽压建模
机译:用于堆叠管芯封装中的开路检测的空间域反射法
机译:“厚”塑料包装,具有“小”芯片与“薄”封装,具有“大”筹码:对湿气诱导的故障倾向的实验评价
机译:塑料封装微电路湿气诱导失效的调查
机译:使用分光光度法研究烟火延迟材料的水分诱导老化的非量热方法
机译:P1SM.7 - 使用微结构堆叠模具设置对金属氧化物气体传感器的主动加热气体过滤器的研究
机译:水化铁脆化铁铝的研究。总结报告