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机译:重新审视布莱克定律—电迁移失败的成因和增长
IBM TJ Watson Research Center, Yorktown Heights, NY, United States;
机译:阈值失效时间和空核对铜互连线电迁移的影响
机译:阈值失效时间与空隙形核之间的相关性,用于描述铜互连的双峰电迁移行为
机译:电迁移引起互连中空洞成核,生长和演化的有限元模型
机译:使用大规模早期故障统计数据的电迁移空白成核和生长分析
机译:多晶无铅焊料中电迁移导致锡扩散引起的空洞成核和初始空洞生长的3D模型。
机译:重新探讨Sn-I辅助反应中黑色磷的生长
机译:在电迁移条件下金属互连线中的空核和长大