机译:使用模态叠加结合的响应谱对板级电子封装的跌落响应进行瞬态分析
Stress-Reliability Laboratory, Advanced Semiconductor Engineering, Inc., 26 Chin 3rd Rd., Nantze Export Processing Zone, 811 Nantze, Kaohsiung, Taiwan, ROC;
机译:电子封装的板级跌落测试的瞬态子模型分析
机译:阶乘分析和模态测量的有限元模型更新板级电子包装
机译:板级电子封装的模态分析
机译:半正弦冲击加速度脉冲作用下的板级电子封装瞬态结构响应的响应谱分析
机译:滑行在崎RA不平的轨道上的动力学分析(测试,模拟,功率谱密度(PSO),模态叠加)。
机译:基于叠加假设的瞬态模板合成稳态响应比较的仿真
机译:光谱分析中模态响应的叠加
机译:直接积分和模态叠加法对旋转壳体的瞬态响应