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机译:用于低功耗SRAM技术的NBTI产品级可靠性
Technology R&D, Cypress Semiconductor, San Jose, CA 95051, USA;
机译:SRAM的制造后自我改进方案下PFET的NBTI可靠性
机译:CONV-SRAM:具有低功耗卷积神经网络内存中点积计算功能的节能SRAM
机译:纳米级CMOS技术中的低功耗SRAM
机译:NBTI对FinFET SRAM的统计可靠性分析和使用独立栅极器件的缓解技术
机译:采用高可变性先进CMOS技术的低功耗高性能SRAM设计
机译:栅堆叠结构和工艺缺陷对32 nm工艺节点PMOSFET中NBTI可靠性的高k介电依赖性的影响
机译:NBTI对FinFET sRam影响的统计可靠性分析及使用独立门器件的缓解技术