机译:开尔文探针显微镜用于RF-MEMS电容开关的可靠性研究
机译:电压和温度对介电充电的影响,用于RF-MEMS电容开关的可靠性研究
机译:封装环境对电容式RF-MEMS开关的功能和可靠性的影响
机译:基于开尔文探针力显微镜的静电驱动MEMS介质充电过程的系统可靠性研究
机译:Kelvin探针研究RF MEMS电容开关中的横向不均匀介质充电和电荷扩散
机译:1)通过扫描开尔文探针显微镜研究快速充电瞬变的概念验证实验。 2)桥接钌配合物的研究
机译:有机铅三溴化物钙钛矿单晶的多峰非接触原子力显微镜和开尔文探针力显微镜研究
机译:开尔文探针显微镜用于RF-MEMS电容开关的可靠性研究