机译:N沟道功率VDMOSFET中的负偏置温度不稳定性
机译:p沟道功率VDMOSFET的负偏置温度不稳定性:可恢复与永久退化
机译:顺序受压和退火的p沟道功率VDMOSFET中的负偏置温度不稳定性
机译:p沟道功率VDMOSFET中的负偏置温度不稳定性机制
机译:负偏置温度不稳定性对P沟道功率VDMOSFET的寿命影响
机译:SiGe PMOS器件上的总电离剂量辐射效应和负偏置温度不稳定性
机译:光激励对insnzno厚度变化薄膜晶体管漏电流和负偏置不稳定性的影响
机译:具有ZrO2栅极电介质的n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的正偏置温度不稳定性