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机译:由于重离子暴露而在中压功率MOSFET中“潜在栅极氧化物损坏”的实验证据
机译:中压功率MOSFET引起单事件栅极损伤形成的实验研究与数值研究。
机译:重离子辐照导致功率MOSFET潜在损坏的研究
机译:重离子辐照期间SiC功率MOSFET引起的栅极损坏-第二部分
机译:重离子辐照过程中产生的电荷在中压功率MOSFET栅极损坏中的作用
机译:中电压SiC-MOSFET启用的中电压DC应用的功率转换器的设计与控制
机译:拟议的双边沿触发静态D型触发器中的MOSFET沟道宽度和电源电压的多目标优化采用模糊非支配排序遗传算法II
机译:硼掺杂栅极氧化物的高压4H-SiC功率MOSFET
机译:多晶硅栅极对具有薄栅氧化层的亚100nm mOsFET中随机掺杂诱导阈值电压波动的影响