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机译:通过电子全息图和化学刻蚀描绘技术对同一样品在半导体器件中进行二维掺杂轮廓分析
机译:电子全息研究,用于通过背面离子铣削制备的样品进行二维掺杂物轮廓测量。
机译:电子全息技术用于背面离子铣削制备的样品进行二维掺杂物轮廓测量
机译:使用离轴电子全息图对聚焦离子束研磨的半导体进行掺杂剂分布分析;减少伪影,扩展检测范围并减少镓注入的影响
机译:使用优先蚀刻/ TEM方法对半导体器件中的掺杂剂进行二维轮廓分析
机译:通过扫描探针显微镜对半导体上的二维二维掺杂物轮廓进行定量测量。
机译:二维半导体为基于掺杂剂的量子计算铺平道路
机译:电子全息术中半导体器件中的2D掺杂剂谱确定的标本制备注意事项
机译:半导体光化学干蚀刻及其与半导体电子特性的关系