...
首页> 外文期刊>Microelectronics reliability >Net integrity checking by optical localization techniques
【24h】

Net integrity checking by optical localization techniques

机译:通过光学定位技术进行网络完整性检查

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

To determine the failing net out of a list of potential candidates provided by the ATPG diagnostic tool, probing techniques such as TRE or LVP are commonly used. To use these techniques, complex electrical setups using tester have to be implemented to control the failing net to its failing value. This paper present an alternative technique to check net integrity and to orient failure location based on optical techniques. Experimental results and simulation presented in this study demonstrate the relevance and the efficiency of this technique.
机译:为了从ATPG诊断工具提供的潜在候选者列表中确定故障网,通常使用诸如TRE或LVP的探测技术。为了使用这些技术,必须实现使用测试仪的复杂电气设置,以将故障网络控制到其故障值。本文提出了一种替代技术,该技术可以基于光学技术检查网络完整性并确定故障位置。在这项研究中提出的实验结果和仿真证明了该技术的相关性和效率。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics reliability 》 |2009年第11期| 1175-1181| 共7页
  • 作者单位

    STMicroelectronics, 190 Avenue Celestin Coq, 13106 Rousset, France;

    STMicroelectronics, 190 Avenue Celestin Coq, 13106 Rousset, France IMS Laboratory, 351 Cours de la Liberation, 33405 Talence, France;

    IMS Laboratory, 351 Cours de la Liberation, 33405 Talence, France;

    IMS Laboratory, 351 Cours de la Liberation, 33405 Talence, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号