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机译:电容式RF MEMS分析的预测可靠性和寿命表征
CNRS LAAS 7 Avenue du colonel Roche, F-31077 Toulouse, France;
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CNRS LAAS 7 Avenue du colonel Roche, F-31077 Toulouse, France Universite de Toulouse: UPS, INSA, INP, ISAE LAAS F-31077 Toulouse, France;
CNRS LAAS 7 Avenue du colonel Roche, F-31077 Toulouse, France Universite de Toulouse: UPS, INSA, INP, ISAE LAAS F-31077 Toulouse, France;
CNRS LAAS 7 Avenue du colonel Roche, F-31077 Toulouse, France Universite de Toulouse: UPS, INSA, INP, ISAE LAAS F-31077 Toulouse, France;
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机译:预测电容性RF MEMS开关的充电和可靠性的综合模型
机译:评估和预测电容MEMS开关的寿命
机译:基于GaAs MMIC技术的低损耗,高隔离度,长期可靠性和高功率处理能力的Ka波段RF MEMS电容式开关
机译:电容电源RF MEMS开关的寿命表征
机译:使用电容传感器接口实时监视和表征RF MEMS开关和MEMS变容二极管。
机译:基于AFM的心脏病应用电容MEMS压力传感器的表征方法
机译:电容电源RF MEMS开关的寿命表征
机译:预测RF mEms电容开关中介电充电效应的温度加速模型(预印本)