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机译:用电子和离子显微镜表征功率MOSFET器件的老化故障
CEMES-CNRS, 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse Cedex 4, France;
Freescale Semiconductor, Inc., Avenue du General Eisenhower, 31023 Toulouse, France;
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CEMES-CNRS, 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse Cedex 4, France Universite de Toulouse, INSA, 31077 Toulouse Cedex, France;
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