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机译:脉冲应力NBTI特性退化应力研究
System LSI Quality and Reliability Engineering Dept., Toshiba Corporation Semiconductor Company, 8, Shinsugita, Isogo, Yokohama 235-8522, Japan;
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机译:在静态和脉冲NBT应力条件下,p沟道功率VDMOSFET中与NBTI相关的退化和寿命估算
机译:NBTI降级的脉冲-应力依赖性及其对电路的影响
机译:在任意应力模拟/混合信号环境中模拟NBTI降级
机译:考虑应力频率依赖性的NBTI引起的延迟退化研究
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机译:应力pVDF冲击应力计的脉冲辐射响应。