...
首页> 外文期刊>Microelectronics reliability >Comparison and evaluation of newest failure rate prediction models: FIDES and RIAC 217Plus
【24h】

Comparison and evaluation of newest failure rate prediction models: FIDES and RIAC 217Plus

机译:最新故障率预测模型的比较和评估:FIDES和RIAC 217Plus

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

The failure rate of an example avionics control unit with approximately 7000 electronic components is calculated with the latest stute-of-the-art prediction models FIDES Guide 2004 and RIAC-Handbook-217Plus (2006). To allow comparison of the component prediction models a standard civil avionics profile was defined and used for both calculations. Results are compared supported by analysis of the influence of component and application specific parameters such as temperature, temperature cycles, humidity, and vibration. In addition predicted failure rates are compared to field data that has been collected for this unit during 15 years.
机译:使用最新的最新预测模型FIDES Guide 2004和RIAC-Handbook-217Plus(2006),可以计算出具有大约7000个电子元件的示例航空电子控制单元的故障率。为了允许比较组件预测模型,定义了标准民用航空电子配置文件,并将其用于两种计算。通过分析组件影响和应用程序特定参数(例如温度,温度循环,湿度和振动)来比较结果。此外,将预测的故障率与该设备在15年中收集的现场数据进行比较。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics reliability 》 |2009年第11期| 967-971| 共5页
  • 作者

    Marcel Held; Klaus Fritz;

  • 作者单位

    Swiss Federal Institute for Materials Testing and Research, EMPA, Ueberlandstr. 129, 8600 Duebendorf, Switzerland;

    Diehl Aerospace GmbH, Alte Nussdorfer Strasse 23, 88662 Ueberlingen, Germany;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号