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ESD testing of devices, ICs and systems

机译:器件,IC和系统的ESD测试

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摘要

This tutorial discusses several ways of ESD testing for devices, ICs and systems. A good understanding of the methods and the physics is required for relating test results to each other. The tutorial ends with an outlook on extensions of the current methods and a discussion on required ESD qualification levels.
机译:本教程讨论了针对设备,IC和系统的ESD测试的几种方法。要使测试结果相互关联,需要对方法和物理有一个很好的了解。本教程以对当前方法的扩展进行了展望,并对所需的ESD认证级别进行了讨论。

著录项

  • 来源
    《Microelectronics reliability》 |2009年第11期|941-945|共5页
  • 作者

    T. Smedes;

  • 作者单位

    NXP Semiconductors, Cerstweg 2, 6534 AE Nijmegen, The Netherlands;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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