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机译:减少复杂设备的ESD测试方法
ST-Ericsson, Binzstrasse 44, 8045 Zurich, Switzerland;
ARM Grenoble Design Centre, Miniparc Polytec, 60 Rue des Berges, 38000 Grenoble, France;
ST-Ericsson, Binzstrasse 44, 8045 Zurich, Switzerland;
NXP Semiconductors, Gerstweg 2, 6534 AE Nijmegen, The Netherlands;
ST-Ericsson, Binzstrasse 44, 8045 Zurich, Switzerland;
机译:测试仪,测试方法和设备类型对CDM ESD测试的影响
机译:开发用于含碱性电解质的低温电化学装置中的CaMn_(1-x)Ru_xO_(3-y)(x = 0和0.15)氧还原催化剂:使用旋转环盘电极伏安法进行异位测试
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