机译:InP / InGaAs / InP DHBT的热老化模型
Laboratoire IMS - Universite de Bordeaux - CNRS UMR 5218 - 357, Cours de la liberation, F-33405 Talence, France;
rnLaboratoire IMS - Universite de Bordeaux - CNRS UMR 5218 - 357, Cours de la liberation, F-33405 Talence, France;
rnLaboratoire IMS - Universite de Bordeaux - CNRS UMR 5218 - 357, Cours de la liberation, F-33405 Talence, France;
rnLaboratoire IMS - Universite de Bordeaux - CNRS UMR 5218 - 357, Cours de la liberation, F-33405 Talence, France;
rnLaboratoire IMS - Universite de Bordeaux - CNRS UMR 5218 - 357, Cours de la liberation, F-33405 Talence, France;
rnLaboratoire IMS - Universite de Bordeaux - CNRS UMR 5218 - 357, Cours de la liberation, F-33405 Talence, France;
机译:研究InP / InGaAs DHBT在偏应力条件下的降解机理,以实现电路设计的电老化模型
机译:气源分子束外延生长具有高碳掺杂碱的InP / InGaAs / InP DHBT结构
机译:气体源分子束外延生长梯度成分基础的InP / InGaAs / InP DHBT结构
机译:InP / InGaAs / InP DHBT经受偏压和热应力:LF基噪声分析
机译:超过1 THz带宽的大规模InP / InGaAs DHBT
机译:通过采用光学光谱分程利用基于INP的量子级联激光器的InGaAs层的非接触式测量
机译:基于250 nm InP / InGaAs / InP DHBT工艺的140-220 GHz成像前端
机译:p + -Inp / n-Inp / n-InGaasp光电二极管的电容 - 电压特性计算