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机译:利用功能汇总统计分析金属栅/高K /Ⅲ-V堆中击穿点的空间分布
Departament d'Enginyeria Electranica, Universitat Autonoma de Barcelona, Bellaterra 08193, Barcelona, Spain;
Tyndall National Institute, University College Cork, Cork, Ireland;
rnTyndall National Institute, University College Cork, Cork, Ireland;
机译:使用TEM / EELS和STM进行高K /金属栅叠层击穿的物理分析,以提高可靠性(受邀)
机译:角小波分析在Pt / HfO_2 / Pt结构击穿点空间分布评估中的探索性研究与应用
机译:利用最近邻统计分析Pt / HfO_2 / Pt电容器击穿点的空间分布
机译:通过相关界面层和高k击穿路径建模的高k栅堆叠击穿统计
机译:研究将Ⅲ族元素(镧,gate 、,和铝)掺入用于高级CMOS应用的金属栅/高k堆栈中的方法。
机译:具有纳米堆叠的高k栅极电介质和3D鳍形结构的高性能III-V MOSFET
机译:使用最近邻统计分析Pt / HfO2 / Pt电容器击穿点的空间分布