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机译:高k型闪存的阈值电压不稳定性
Dipartimento di Ingegneria Elettronica, Universita di Roma 'La Sapienza', Via Eudossiana 18, 00184 Roma, Italy;
rnDipartimento di Ingegneria Elettronica, Universita di Roma 'La Sapienza', Via Eudossiana 18, 00184 Roma, Italy;
机译:基于氮化物的电荷陷阱闪存的阈值电压不稳定性机制-综述
机译:阵列背景图案对纳米级NAND闪存中循环诱发的阈值电压不稳定性的影响
机译:纳米级NAND闪存中损坏恢复的阈值电压不稳定性
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机译:电荷陷阱对高k栅极堆叠中的迁移率和阈值电压不稳定性产生影响。
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机译:低压闪存操作的基于高k的多层隧道势垒的分析和实现
机译:高K场效应晶体管偏置温度不稳定性测量中的异常漏电压依赖性